超聲波C 掃描檢測系統(tǒng) DLT-QC-210

產(chǎn)品介紹

超聲掃描顯微鏡

超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對材料科學(xué)，半導(dǎo)體行業(yè)等相應(yīng)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷檢測，利用高速線性馬達(dá)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，對產(chǎn)品進(jìn)行水浸C 掃描檢測，全波列采集超聲波信號，利用成像算法和數(shù)據(jù)圖像處理功能，對產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷進(jìn)行有效識別，得到內(nèi)部清晰圖像，并統(tǒng)計(jì)分析缺陷位置、形狀和尺寸，生成自定義報(bào)告。

二、產(chǎn)品特點(diǎn) FEATURES

適用產(chǎn)品：芯片、塑料封裝IC、PCB、金屬基板、晶片、半導(dǎo)體電子行業(yè)；Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,

檢測結(jié)果穩(wěn)定性、 一致性高；

High stability and consistency of test results;

高速定位，快速成像；

High-speed positioning and fast imaging;

操作簡單，使用安全，檢測結(jié)果格式多樣化；

Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;

技術(shù)參數(shù) SPECIFICATIONS

運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)/Motion system  

XY軸掃描范圍/Scanning range of XY axis 300*300mm   (可定制/Customizable)

掃描速度/Scanning speed                                 1000mm/s

重復(fù)精度/Repetition precision                                 1um

超聲發(fā)射接收/   Ultrasonic emission and reception

工作頻率范圍/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz

激勵(lì)脈沖形式/Excitation pulseform                 方波/Square wave

工作溫度/Working temperature                 -10℃~+50℃

采樣率/Sampling rate                                 100MHz,  可支持，GHz/100MHz,Support IGHz

重復(fù)頻率/Repetition frequency                  20khz

數(shù)據(jù)傳輸率/Data transfer rate                                  5G

采樣點(diǎn)數(shù)/Sampling points                                  4K (可定制)/4K(Customizable）

增益調(diào)節(jié)/Gain adjustment                                 -13~66dB 連續(xù)1dB 可調(diào)/- 13~66dB  continuous  IdB  adjustable

軟件功能/Software function

A、B、C、D掃描圖像                                                  界面跟蹤、區(qū)域重掃

A,B,C, D scanning imaging                                  Interface tracking, area re-scanning

多種特征成像方式/Multiple imaging methods  多種數(shù)據(jù)處理、圖像處理方式

                                                                                  Multiple data processing and image processing methods

缺陷定位統(tǒng)計(jì)分析/                                                       數(shù)據(jù)庫統(tǒng)計(jì)、自定義報(bào)告模板/

Statistical analysis of defect location                         Database statistics, customizable report template