這款硅漂移探測(cè)器(SDD,Silicon Drift Detector)專(zhuān)業(yè)為XRF光譜儀和SEM掃描電鏡EDS能譜儀探測(cè)器應(yīng)用而設(shè)計(jì)，提供窗口材料的選擇，從鈹（8μm）到薄型聚合物（用于輕型X射線(xiàn)透射），并提供10mm2至60mm2的傳感器有源區(qū)域。 此外，所有或我們的SEM SDD版本都是無(wú)振動(dòng)的。
硅漂移探測(cè)器在與創(chuàng)新的基于以太網(wǎng)的數(shù)字脈沖處理器相結(jié)合時(shí)得到優(yōu)化。 具體配置給每個(gè)客戶(hù)，SDD硅漂移探測(cè)器在廣泛的輸入計(jì)數(shù)率下提供和穩(wěn)定的性能，以產(chǎn)生快速X射線(xiàn)圖。
硅漂移探測(cè)器規(guī)格