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在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓的厚度測(cè)量是至關(guān)重要的一環(huán),它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測(cè)量的需求,我們研發(fā)了一款對(duì)射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測(cè)量設(shè)備,專門用于晶圓厚度的精確測(cè)量
技術(shù)特點(diǎn)
高精度測(cè)量:本設(shè)備采用光譜共焦原理,通過(guò)分析反射光的光譜信息來(lái)確定被測(cè)物體的位移,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓厚度的精確測(cè)量。其重復(fù)精度高達(dá)±0.5um,絕對(duì)精度達(dá)到+1um,確保了測(cè)量結(jié)果的可靠性和穩(wěn)定性。
靈活的測(cè)量模式:設(shè)備提供多種測(cè)量模式,包括4線米字掃描、多點(diǎn)位步進(jìn)掃描等,用戶可以根據(jù)實(shí)際需求自定義掃描軌跡,滿足多樣化的測(cè)量需求。
優(yōu)良的機(jī)械結(jié)構(gòu):工作平臺(tái)采用XY運(yùn)動(dòng)平臺(tái)與龍門結(jié)構(gòu)相結(jié)合的設(shè)計(jì),保證了測(cè)量過(guò)程中的穩(wěn)定性和精度。載物臺(tái)方面,我們優(yōu)選鏤空、六支臂結(jié)構(gòu)形式,以最小化對(duì)測(cè)量結(jié)果的干擾;次選為鋁合金載物臺(tái)鍍特氟龍涂層,并刻有不同尺寸晶圓的輪廓示意線,便于用戶快速定位。
九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
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