HTRB（High Temperature Reverse Bias）高溫反偏老化系統(tǒng)可在 200℃高溫進(jìn)行長(zhǎng)期老化測(cè)試，配備2000V高壓電源和自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)采集卡，支持適用于各種封裝的二極管、三極管、SCR、MOSFET等器件，能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)漏電流、電壓狀態(tài)、支持過流、過壓、短路保護(hù)(自主關(guān)斷單顆器件輸入)，記錄數(shù)據(jù)和位置信息并導(dǎo)出報(bào)表。

精準(zhǔn)監(jiān)測(cè)，功能全面：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)老化參數(shù)，設(shè)定多種參數(shù)上限，超限報(bào)警并記錄，方便調(diào)用數(shù)據(jù)生成報(bào)表、繪制曲線。

模塊獨(dú)立，靈活適用：老化系統(tǒng)采用單元模塊和整體結(jié)構(gòu)，每個(gè)模塊可獨(dú)立運(yùn)行，適用于產(chǎn)品可靠性篩選和批量生產(chǎn)品質(zhì)監(jiān)控。

軟件強(qiáng)大，管理有序：支持本地?cái)?shù)據(jù)存儲(chǔ)與上傳、MES 對(duì)接、在線編輯測(cè)試程序，具備三級(jí)權(quán)限管理和多賬號(hào)管理功能。