![]() |
HTRB(High Temperature Reverse Bias)高溫反偏老化系統(tǒng)可在 200℃高溫進(jìn)行長(zhǎng)期老化測(cè)試,配備2000V高壓電源和自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)采集卡,支持適用于各種封裝的二極管、三極管、SCR、MOSFET等器件,能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)漏電流、電壓狀態(tài)、支持過流、過壓、短路保護(hù)(自主關(guān)斷單顆器件輸入),記錄數(shù)據(jù)和位置信息并導(dǎo)出報(bào)表。
精準(zhǔn)監(jiān)測(cè),功能全面:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)老化參數(shù),設(shè)定多種參數(shù)上限,超限報(bào)警并記錄,方便調(diào)用數(shù)據(jù)生成報(bào)表、繪制曲線。
模塊獨(dú)立,靈活適用:老化系統(tǒng)采用單元模塊和整體結(jié)構(gòu),每個(gè)模塊可獨(dú)立運(yùn)行,適用于產(chǎn)品可靠性篩選和批量生產(chǎn)品質(zhì)監(jiān)控。
軟件強(qiáng)大,管理有序:支持本地?cái)?shù)據(jù)存儲(chǔ)與上傳、MES 對(duì)接、在線編輯測(cè)試程序,具備三級(jí)權(quán)限管理和多賬號(hào)管理功能。
卡倫測(cè)控技術(shù)(無錫)有限公司
- AP-UV3-FB6-油墨紫外老化試驗(yàn)箱
- AP-UV3-紫外輻射老化試驗(yàn)箱
- AP-UV3-紫外光老化試驗(yàn)箱
- 電池防爆試驗(yàn)箱 防爆防火高安全設(shè)備
- 電池高溫隔爆實(shí)驗(yàn)箱 帶操作玻璃門
- 小型高溫高濕FPC折彎試驗(yàn)機(jī)
- 線材高溫高濕FPC折彎試驗(yàn)機(jī)
- OLED柔性膜高溫高濕FPC折彎試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕耐寒耐濕熱折彎試驗(yàn)箱
- 自產(chǎn)FPC折彎試驗(yàn)機(jī)定制款-加罩子防塵款
- 恒溫恒濕折彎試驗(yàn)箱
- AP-UV3-紫外線照射實(shí)驗(yàn)設(shè)備