HTOL集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)
2025-07-21
![]() |
HTOL(High Temperature Operating Life)測(cè)試作為評(píng)估集成電路可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),模擬芯片在高溫、高壓下的長(zhǎng)期運(yùn)行狀態(tài),以此精準(zhǔn)評(píng)估芯片壽命、可靠性與穩(wěn)定性。本系統(tǒng)專(zhuān)為各類(lèi)封裝形式的大、中、小規(guī)模集成電路量身打造,廣泛適用于微處理器、邏輯電路等多種器件的工作壽命試驗(yàn)與高溫動(dòng)態(tài)老煉篩選。
自有發(fā)明智能動(dòng)態(tài)在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)技術(shù)。
方便靈活配置芯片狀態(tài)、施加信號(hào),提高HTOL debug及Setup效率。
實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,寄存器狀態(tài)等數(shù) 據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL 測(cè)試質(zhì)量。
監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)異常自動(dòng)報(bào)警,實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大大提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間成本、 FA成本。
卡倫測(cè)控技術(shù)(無(wú)錫)有限公司
- 類(lèi)型:
- 生產(chǎn)廠家
- 聯(lián) 系 人:
- 卡倫測(cè)控
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明在化工儀器網(wǎng)上看到的,謝謝。
- AP-UV3-FB6-油墨紫外老化試驗(yàn)箱
- AP-UV3-紫外輻射老化試驗(yàn)箱
- AP-UV3-紫外光老化試驗(yàn)箱
- 電池防爆試驗(yàn)箱 防爆防火高安全設(shè)備
- 電池高溫隔爆實(shí)驗(yàn)箱 帶操作玻璃門(mén)
- 小型高溫高濕FPC折彎試驗(yàn)機(jī)
- 線材高溫高濕FPC折彎試驗(yàn)機(jī)
- OLED柔性膜高溫高濕FPC折彎試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕耐寒耐濕熱折彎試驗(yàn)箱
- 自產(chǎn)FPC折彎試驗(yàn)機(jī)定制款-加罩子防塵款
- 恒溫恒濕折彎試驗(yàn)箱
- AP-UV3-紫外線照射實(shí)驗(yàn)設(shè)備