LTOL測試作為評估集成電路可靠性的關鍵環(huán)節(jié)，模擬芯片在低溫、高壓下的長期運行狀態(tài)，以此精準評估芯片壽命、可靠性與穩(wěn)定性。本系統(tǒng)專為各類封裝形式的大、中、小規(guī)模集成電路量身打造，廣泛適用于微處理器、邏輯電路等多種器件的工作壽命試驗與低溫動態(tài)老煉篩選。

產品特點

智能監(jiān)測，實時把控：運用自研在線實時監(jiān)測技術，實時監(jiān)測環(huán)境溫度、芯片電壓、電流等狀態(tài)，保障測試質量，數(shù)據(jù)異常時自動報警，提升測試效率，降低成本。

靈活配置，高效便捷：方便靈活配置芯片測試溫度、向量、電壓等參數(shù)，大幅提高 HTOL 調試及設置效率，操作簡單易上手。

數(shù)據(jù)詳實，分析有力：全程實時記錄數(shù)據(jù)，生成正態(tài)分布圖、散點圖等分析數(shù)據(jù)，助力分析芯片溫度特性，使數(shù)據(jù)更具說服力。

節(jié)能環(huán)保，高度集成：設備體積小、重量輕、功耗小，采用廠務水降溫，無需排風管道，節(jié)能環(huán)保，干凈整潔。