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LTOL集成電路低溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)

2025-07-21

產      地:
卡倫測控
所在地區(qū):
江蘇無錫市
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LTOL測試作為評估集成電路可靠性的關鍵環(huán)節(jié),模擬芯片在低溫、高壓下的長期運行狀態(tài),以此精準評估芯片壽命、可靠性與穩(wěn)定性。本系統(tǒng)專為各類封裝形式的大、中、小規(guī)模集成電路量身打造,廣泛適用于微處理器、邏輯電路等多種器件的工作壽命試驗與低溫動態(tài)老煉篩選。

產品特點

智能監(jiān)測,實時把控:運用自研在線實時監(jiān)測技術,實時監(jiān)測環(huán)境溫度、芯片電壓、電流等狀態(tài),保障測試質量,數(shù)據(jù)異常時自動報警,提升測試效率,降低成本。

靈活配置,高效便捷:方便靈活配置芯片測試溫度、向量、電壓等參數(shù),大幅提高 HTOL 調試及設置效率,操作簡單易上手。

數(shù)據(jù)詳實,分析有力:全程實時記錄數(shù)據(jù),生成正態(tài)分布圖、散點圖等分析數(shù)據(jù),助力分析芯片溫度特性,使數(shù)據(jù)更具說服力。

節(jié)能環(huán)保,高度集成:設備體積小、重量輕、功耗小,采用廠務水降溫,無需排風管道,節(jié)能環(huán)保,干凈整潔。

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