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高分辨率SWIR光束分析儀BND-S0503U-Basic

2025-07-24

產(chǎn)      地:
中國
所在地區(qū):
廣東深圳市
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由于標準硅基傳感器通常僅對波長上限 1000 nm 敏感,因此 需要能夠超越硅材料上限成像的傳感器。InGaAs傳感器通常用于 SWIR 成像,光譜范圍覆蓋 900 nm 至 1700 nm。我們的SWIR光束分析儀BND-S0503U-Basic,光譜范圍覆蓋400-1700nm,搭配軟件可以分析光束的空間特性,例如尺寸、形狀、位置、傳播和模式結(jié)構(gòu)特性等。

主要特征

400-1700nm 光譜范圍

656 x 520 分辨率

5μm×5μm 像素大小

USB 3.0 高速接口

技術(shù)規(guī)格

產(chǎn)品名稱BND-S0503U-Basic
光譜范圍400-1700nm
光束尺寸50μm-2.6mm
通信接口USB 3.0
傳感器類型InGaAs
兼容的光源CW, Pulsed
有效面積3.2 x2.6mm
分辨率656 x 520
像素大小5μm×5μm
快門全局快門
外觸發(fā)支持

軟件

典型應(yīng)用

激光束輪廓分析

光電設(shè)備制造控制

光電測試和檢驗

光纖檢查

產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控

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