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SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的原理和優(yōu)勢特性

來源:帕剌斯儀器(上海)有限公司   2021年02月14日 20:06  
   SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是*的能夠產生單分散校準氣溶膠的設備,并能進行準確的粒徑測量。完整的SEMS包括前置撞擊器、中和器、DMA、HV、流量控制器、真空泵、控制硬件、軟件、CPC凝聚核粒子計數器、鍵盤、鼠標以及監(jiān)視器。
 
  SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的原理:
  動態(tài)光散射法用于測量粒度及分子大小。DLS可測量作布郎運動顆粒的擴散情況,并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉化為粒度與粒度分布。包含的非侵入式背散射技術(NIBS)使系統(tǒng)具有較高的靈敏度以及較高的粒度及濃度范圍。可通過檢測不同濃度下的粒徑可以計算KD,DLS相互作用因子。
  使用范圍:細胞外囊泡,細胞器,微球等。
 
  SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的優(yōu)勢特性:
  測量5.6到560nm粒徑范圍內的顆粒物。
  10Hz數據采集實時捕捉瞬時事件。
  專業(yè)的數據采集和分析軟件。
  可選測量度量工具,用于更準確的測量應用。
  一體式單機機柜,重量只有32kg。
  四個可配置模擬輸出端口。
  可選命令協(xié)議,適用于帶有主控器的排放測試系統(tǒng)。
 
  用于測定各種膠體分散相表面電動電位和微粒帶電性,在現代科研工作,工農業(yè)生產以及醫(yī)學,生物領域中測定電動電位的值,對研究了解分散相表面特性和微粒的分散聚團特性。

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