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3D光學(xué)干涉輪廓儀:原理、應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)

來源:昆山瑞塞奇精密儀器有限公司   2023年09月06日 10:55  
   3D光學(xué)干涉輪廓儀是一種用于測(cè)量物體表面的三維形貌的高精度儀器。其原理是利用光學(xué)干涉技術(shù),將物體的形貌轉(zhuǎn)化為可測(cè)量的干涉圖案,再通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理和分析,從而得到物體表面的三維形貌。將一束光線分成兩束,一束經(jīng)過被測(cè)物體表面反射回來,另一束經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)平面反射回來。這兩束光線在干涉儀的探測(cè)器上形成干涉圖案,干涉圖案的形狀與被測(cè)物體表面的高度起伏有關(guān)。通過測(cè)量干涉圖案的形狀,可以推算出被測(cè)物體表面的高度。
 
  具體來說,假設(shè)光線從干涉儀的發(fā)射器發(fā)出,經(jīng)過分束器分成兩束光線。一束光線經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)平面的反射,另一束光線經(jīng)過被測(cè)物體表面的反射。這兩束光線在回到分束器時(shí)會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,干涉圖案被探測(cè)器接收并轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。電信號(hào)經(jīng)過放大、濾波等處理后,被送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析和處理。
 
  應(yīng)用
 
  1.微納加工與制造:在微納加工與制造領(lǐng)域,需要高精度的測(cè)量?jī)x器來檢測(cè)加工質(zhì)量和加工效果。可以用于測(cè)量微納結(jié)構(gòu)的三維形貌,為加工工藝的優(yōu)化提供依據(jù)。
 
  2.生物醫(yī)學(xué)工程:在生物醫(yī)學(xué)工程領(lǐng)域,需要高精度的測(cè)量?jī)x器來研究人體表面和內(nèi)部器官的三維形貌??梢杂糜跍y(cè)量人體表面和內(nèi)部器官的三維形貌,為醫(yī)學(xué)研究和診斷提供依據(jù)。
 
  3.地質(zhì)學(xué)與地球物理學(xué):在地質(zhì)學(xué)與地球物理學(xué)領(lǐng)域,需要高精度的測(cè)量?jī)x器來研究地球表面的地形地貌??梢杂糜跍y(cè)量地球表面的地形地貌,為地質(zhì)研究和資源勘探提供依據(jù)。
 
  4.光學(xué)器件與光學(xué)系統(tǒng):在光學(xué)器件與光學(xué)系統(tǒng)領(lǐng)域,需要高精度的測(cè)量?jī)x器來研究光學(xué)元件和系統(tǒng)的表面形貌。可以用于測(cè)量光學(xué)元件和系統(tǒng)的表面形貌,為光學(xué)設(shè)計(jì)和制造提供依據(jù)。
 
  優(yōu)勢(shì)
 
  1.高精度:測(cè)量精度可以達(dá)到納米級(jí)別,可以高精度地測(cè)量物體表面的三維形貌。
 
  2.非接觸測(cè)量:采用非接觸測(cè)量方式,不會(huì)對(duì)被測(cè)物體表面造成損傷,適合于測(cè)量脆性、易碎、大型等材料。
 
  3.速度快:測(cè)量速度非常快,可以在短時(shí)間內(nèi)完成大面積的測(cè)量任務(wù)。
 
  4.多功能:不僅可以測(cè)量平面和斜面,還可以測(cè)量曲面和復(fù)雜外形,具有廣泛的應(yīng)用范圍。
 
  5.自動(dòng)化程度高:可以采用自動(dòng)化方式進(jìn)行測(cè)量,減少人為誤差和操作時(shí)間。

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