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X射線晶體光譜儀（x-ray imaging crystal spectrometer）常用于高能射線的測(cè)量，按照使用晶體分為：平面晶體譜儀和彎晶譜儀。
通常情況下，平面晶體譜儀由于器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，加工難度低而廣泛應(yīng)用于X射線光譜分析，是一種*簡(jiǎn)單的X射線光譜測(cè)量?jī)x器。然而平面譜儀不具備聚焦功能，因此收光效率低，譜線強(qiáng)度弱。此外光源尺寸對(duì)光譜分辨率的影響明顯，不滿足高光譜分辨的測(cè)量需求。彎曲晶體譜儀通過將分光晶體衍射面彎曲成各種曲面而達(dá)到強(qiáng)聚焦的目標(biāo)。
球面彎曲晶體，同時(shí)具備色散與成像的二維特性。結(jié)合晶體布拉格衍射和球面鏡聚焦特性，在沒有狹縫或真空的情況下，結(jié)合二維X射線探測(cè)器，可以同時(shí)得到光譜和空間分辨的X射線光源像。目前球面彎晶在慣性約束和磁約束等離子體診斷中都得到了廣泛的應(yīng)用。
等離子體離子溫度，旋轉(zhuǎn)速度是表征聚變等離子體性能的重要參數(shù)，也是開展眾多等離子體物理問題研究的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。在托卡馬克裝置中，彎晶譜儀通過測(cè)量等離子體雜質(zhì)譜線的多普勒頻移與多普勒展寬來測(cè)量離子溫度和旋轉(zhuǎn)速度。
基于其不依賴于中性束注入以及在各種射頻波加熱下都能正常運(yùn)行的特性，尤其適合純射頻波加熱下等離子體溫度的測(cè)量，是托卡馬克裝置中的重要物理診斷之一。
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