Keysight B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀場景使用

來源：深圳市達(dá)瑞博電子有限公司 2025年07月21日 16:17

Keysight B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀在以下場景中使用：

半導(dǎo)體器件的電學(xué)性能測試：包括晶體管、二極管、集成電路等器件的IV（電流-電壓）測量、CV（電容-電壓）測量以及脈沖IV測量。
非易失存儲器測試：支持高達(dá)40V的高壓脈沖測試，適用于非易失存儲器的性能評估。
CMOS器件可靠性測試：用于CMOS LSI器件的可靠性評估，特別是在高電壓偏置下的CV測試。
憶阻器和納米器件測試：適用于憶阻器、納米器件等新型器件的特性分析。
功率器件測試：支持對功率器件的電氣特性進(jìn)行測試。
半導(dǎo)體材料性能測試：可用于半導(dǎo)體材料的電學(xué)特性分析。
研發(fā)與教育環(huán)境：由于其模塊化設(shè)計(jì)和易用性，B1500A廣泛應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室和教育機(jī)構(gòu)的研發(fā)和教學(xué)中。

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