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先鋒科技(香港)股份有限公司

16
  • 2018

    04-18

    基于X射線成像方法的皮帶無損檢測(cè)

    由于沒有采用可靠的檢測(cè)手段,我國煤礦幾乎每天都在發(fā)生提升鋼絲繩的斷繩、斷帶事故。1995年晉城煤礦斜井鋼絲繩斷,人車沖底;1999年江蘇徐州煤礦立井鋼絲繩斷,罐籠沉底,2003年甘肅華亭硯北煤礦,2005年長(zhǎng)治經(jīng)坊煤礦,2006年晉城寺河礦等都發(fā)生斷帶或多次斷帶。據(jù)《中國煤礦事故暨點(diǎn)評(píng)集》統(tǒng)計(jì),煤礦提升鋼絲繩的事故造成的影響,僅次于瓦斯與頂板事故,位居第三。X射線線型掃描成像井下皮帶檢測(cè)是近期新興的一種檢測(cè)手段,與傳統(tǒng)的電磁式的檢測(cè)方式相比,它具有成像質(zhì)量好、能夠準(zhǔn)確定位、圖像直觀化等*的優(yōu)勢(shì)。
  • 2018

    04-18

    時(shí)間分辨X射線衍射--原子及分子結(jié)構(gòu)的革命

    近幾年,研究者們開始研究原子及分子結(jié)構(gòu)在100飛秒的時(shí)間尺度上隨著時(shí)間的變化,而這正是原子震動(dòng)的時(shí)間尺度。通過這種方法可以在原子尺度觀察物理、化學(xué)以及生物過程中的時(shí)間變化。在這個(gè)新的方法中,X射線源、飛秒激光器以及X射線光學(xué)元件都需要用到。另外,如果沒有一種新型的Kev能量范圍的光子探測(cè)器,這個(gè)實(shí)驗(yàn)仍然無法實(shí)現(xiàn)。而采用集成了環(huán)形彎曲晶體的CCD可以對(duì)動(dòng)態(tài)晶體衍射曲線進(jìn)行同步測(cè)試。時(shí)間分辨衍射的典型配置如圖1所示。短脈沖激光器(脈寬100fs,強(qiáng)度1015W/cm2)與固體物質(zhì)相互作用可以產(chǎn)生高密
  • 2018

    04-17

    關(guān)于局限半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的研究

    基于半導(dǎo)體材料的量子光學(xué)設(shè)計(jì)在量子密碼學(xué)以及量子通訊應(yīng)用及研究中發(fā)揮著越來越重要的作用。在本應(yīng)用文檔中,我們將介紹砷化鎵的激子化激元以及砷化銦量子點(diǎn)的光譜學(xué)測(cè)量。所有的實(shí)驗(yàn)都是在4~60K的制冷溫度下進(jìn)行的。相對(duì)于光之間直接作用,電控制光學(xué)器件顯得非常的簡(jiǎn)單。因此,在量子光學(xué)中,依然通過把光變?yōu)殡娦盘?hào)或者將電信號(hào)變?yōu)楣鈦硌芯科淞孔犹匦浴,F(xiàn)在通常認(rèn)為量子的發(fā)射是基于激子化激元或者半導(dǎo)體量子點(diǎn)的。在*種情況下,一個(gè)窄量子阱與周圍的空穴之間的相互作用產(chǎn)生光的奇特態(tài),并且發(fā)射的光子可能是糾纏的。在第二種
  • 2018

    04-17

    紫外差分光學(xué)吸收光譜儀的應(yīng)用

    差分光學(xué)吸收光譜技術(shù)(DOAS)是探測(cè)大氣中痕量氣體成分的現(xiàn)代光譜遙測(cè)技術(shù),以其高分辨率和高精度并可同時(shí)對(duì)多種氣體進(jìn)行測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)廣泛應(yīng)用于城市空氣質(zhì)量監(jiān)測(cè),排放源氣體監(jiān)測(cè)等場(chǎng)合。DOAS主要是通過氣體對(duì)紫外/可見光的特征吸收光譜定性定量分析氣體組分。光纖光譜儀是以光纖為信號(hào)采集器件,,體積小巧,提供二次開發(fā)軟件易于OEM集成。一、Black-Wave高靈敏凹面光柵光纖光譜儀特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)采用平場(chǎng)凹面光柵,有效抑制紫外光雜散光尤其適合于紫外差分光學(xué)吸收光譜,提高紫外光靈敏度,測(cè)試精度高。TEC制冷選項(xiàng)有
  • 2018

    04-17

    Lumenera相機(jī)在智能交通監(jiān)控的應(yīng)用

    隨著電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、微加工技術(shù)以及新型傳感器和大量量存儲(chǔ)技術(shù)的發(fā)展,高速高清相機(jī)以其、智能、畫面清晰穩(wěn)定的優(yōu)勢(shì)已經(jīng)逐漸成為安防監(jiān)控、智能交通的主流設(shè)備,為智能交通系統(tǒng)能夠獲取更清晰圖像做出了巨大貢獻(xiàn)??v觀行業(yè)發(fā)展,隨著智能交通技術(shù)的不斷提升,高速相機(jī)在其中有著重要的應(yīng)用,為智能交通系統(tǒng)能夠獲取清晰圖像做出了很大的貢獻(xiàn)??梢哉f獲得高速高清工業(yè)相機(jī)的助陣,智能交通如虎添翼。在工業(yè)相機(jī)采集抓拍的過程中,可能會(huì)遇到一些技術(shù)問題。車輛的測(cè)速以及駕駛員的駕駛行為成像都是智能交通所涉及到的范圍,如果利用
  • 2018

    04-17

    LIF&PLIF診斷系統(tǒng)詳細(xì)介紹

    LIF(LaserInducedFluorescence)與PLIF(PlanarLaserInducedFluorescence)是一種廣泛用于液態(tài)、氣態(tài)等物質(zhì)燃燒場(chǎng)中各種組分濃度與溫度場(chǎng)分析的重要分析方法,由于它是采用光學(xué)非接觸式測(cè)量,同時(shí)又具有很高的靈敏度以及時(shí)間與空間分辨率,因此很受廣大科研人員的歡迎。LIF&PLIF診斷系統(tǒng)詳細(xì)介紹目前,LIF以及PLIF的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括:過程工程學(xué):例如攪拌器的混合,加熱以及冷卻系統(tǒng)生物醫(yī)藥工程學(xué)流體力學(xué):擾動(dòng)混合,熱傳遞模型,燃燒,噴射,激波管等
  • 2018

    04-17

    Ophir高功率激光功率計(jì)快門保護(hù)罩介紹

    針對(duì)激光加工過程中普遍存在的材料碎屑對(duì)功率測(cè)量探頭污染與損壞,影響其使用壽命和測(cè)量精度的情況,Ophir專門設(shè)計(jì)了保護(hù)5000W和10KW探頭的帶有shutter的保護(hù)罩,以保護(hù)您昂貴的功率探頭免受污染。這種保護(hù)裝置可以有效的保護(hù)探頭表面的吸收層免受加工材料碎片的污染和損壞。保護(hù)罩可以在電磁操控下,隨時(shí)開啟和關(guān)閉快門。保護(hù)罩需要通過探頭前邊的法蘭和探頭連接在一起。型號(hào)5000W、10KW帶有Shutter的保護(hù)罩(a)使用保護(hù)探頭免受加工過程材料碎屑的污染支持探頭5000W和10KW探頭,(需要
  • 2018

    04-17

    FPD在線光譜式測(cè)試應(yīng)用特點(diǎn)

    光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了zui高精度的亮度、色度測(cè)量?,F(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。PhotoResearch的A-TAKT™系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足,實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL,針對(duì)FPD產(chǎn)線測(cè)試不同測(cè)試應(yīng)用。具有如下總的特點(diǎn):特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)采用制冷型CCD探測(cè)器有效抑制暗噪聲及雜散光;可調(diào)取、使用測(cè)試對(duì)象的圖像,不需通過目鏡觀測(cè);保持產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試穩(wěn)定
  • 2018

    04-17

    Andorx射線探測(cè)方案

    直接和間接探測(cè)針對(duì)不同的x射線應(yīng)用,不管是影像,還是光譜,Andor都可以提供全面的CCD探測(cè)系統(tǒng)。根據(jù)應(yīng)用和能量不同,這些系統(tǒng)可以放置在真空內(nèi)使用,或者通過法蘭和真空腔相連,也可以是單獨(dú)使用。另外,如果您的應(yīng)用需要對(duì)x射線進(jìn)行間接探測(cè),Andor也可以提供各種光纖耦合的CCD相機(jī).Andorx射線探測(cè)方案有益于如下各種應(yīng)用:X射線/中子斷層掃描X射線光譜X射線顯微X射線光斑檢測(cè)X射線衍射X射線平板印刷術(shù)X射線地形學(xué)等離子體研究醫(yī)療影像湯姆森散射X射線可以大致可以分為幾個(gè)范圍,雖然幾個(gè)范圍沒有嚴(yán)
  • 2018

    04-13

    THz成像技術(shù)介紹

    THz成像技術(shù)是THz技術(shù)發(fā)展的重要方向之一,在國防、安檢、材料、生物和醫(yī)療領(lǐng)域都有著重大意義。目前THz成像技術(shù)主要分為:掃描成像和THz面陣探測(cè)器直接成像,但是這兩種方式都面臨著重大的技術(shù)挑戰(zhàn)。首先,THz掃面成像,這種方式多應(yīng)用在時(shí)域光譜領(lǐng)域中,掃面成像需要的時(shí)間較長(zhǎng),無法實(shí)時(shí)成像,且隨著空間分辨率的提高及掃描面積的加大,所需要的時(shí)間越長(zhǎng),使得這種方式的發(fā)展在很多應(yīng)用中受到限制,如國防、安檢、生物醫(yī)療等;另該方式產(chǎn)生的THz輻射較弱,相應(yīng)的穿透力較弱,且由于水對(duì)于THz的吸收,使其無法在空
  • 2018

    04-13

    激光光聲成像OPO激光器在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用

    在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中,成像技術(shù)對(duì)疾病的診斷、監(jiān)控和研究具有十分重要的意義.在成像技術(shù)中,近年來異軍突起的光聲成像(photoacousticimaging)技術(shù)被認(rèn)為是一種有發(fā)展前景的成像模式.生物醫(yī)學(xué)光聲成像技術(shù)是指:當(dāng)寬束短脈沖激光輻照生物組織時(shí),位于組織體內(nèi)的吸收體(如腫瘤)吸收脈沖光能量,從而升溫膨脹,產(chǎn)生超聲波;這時(shí),位于組織體表面的超聲探測(cè)器件可以接收到這些外傳的超聲波,并依據(jù)探測(cè)到的光聲信號(hào)來重建組織內(nèi)光能量吸收分布的圖像.由上可見,光聲成像技術(shù)檢測(cè)的是超聲信號(hào),反映的是光能量吸收的差
  • 2018

    04-13

    全彩OLED顯示屏測(cè)試和檢查解決方案

    PM-PTS-ODP和PM-PTS-OSP(OLED顯示器和子像素測(cè)量)模塊是一個(gè)完整的全彩OLED顯示器測(cè)試和檢查解決方案,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。PM-PTS-ODP和PM-PTS-OSP模塊用于補(bǔ)充或取代OLED的質(zhì)量控制中人類視覺檢測(cè)。兩者都是PM-PTS軟件包的組成部分。完整的PM-PTS-ODP和PM-PTS-OSP模塊包括專有的數(shù)據(jù)采集、圖像處理軟件和PM系列影像色度計(jì)。各種型號(hào)影像色度計(jì)和鏡頭的恰當(dāng)組合,其測(cè)量視野和空間分辨率達(dá)到OLED器件測(cè)試要求。的性能表征及缺陷檢測(cè):PM-P
  • 2018

    04-13

    用于光遺傳學(xué)的多波長(zhǎng)五維可調(diào)LED光源

    遺傳學(xué)(Optogenetics),即結(jié)合遺傳工程與光來操作個(gè)別神經(jīng)細(xì)胞的活性,發(fā)現(xiàn)腦部如何產(chǎn)生γ波(gammaoscillations),并為它們?cè)谡{(diào)控腦部功能中的角色提供新證據(jù),這將有助于發(fā)展一系列腦相關(guān)失調(diào)的新療法。光遺傳學(xué)融合了光學(xué)及遺傳學(xué)的技術(shù),控制特定細(xì)胞在空間與時(shí)間上的活動(dòng)。其時(shí)間上程度可達(dá)到厘秒,而空間上則能達(dá)到單一細(xì)胞大小。2010年光遺傳學(xué)被NatureMethods選為年度方法,同年被Science認(rèn)為是近十年來的突破之一。光遺傳學(xué)是由斯坦福大學(xué)的研究人員開始用于研究小鼠大
  • 2018

    04-13

    采用高靈敏度亮度計(jì)用于儀表顯示檢測(cè)的解決方案

    汽車內(nèi)儀表顯示分為功能性照明和指示性照明,用于增強(qiáng)黑暗中的照明亮度及指示汽車儀表狀態(tài)。目前汽車內(nèi)背照燈及指標(biāo)燈越來越多的采用LED,不僅對(duì)其亮度有要求,對(duì)其顏色也有較高要求。高靈敏度快速光譜式亮度計(jì)PR-740特點(diǎn):優(yōu)勢(shì):采用制冷型CCD探測(cè)器有效抑制暗噪聲及雜散光高靈敏度可快速測(cè)試弱光信號(hào)一臺(tái)儀器zui多可選8個(gè)光闌方便準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)儀表盤目標(biāo)小點(diǎn)多光譜帶寬選項(xiàng)對(duì)于窄帶光譜具有更好的精度光譜功率分布測(cè)試功能避免同色異譜帶來的顏色誤差動(dòng)態(tài)范圍寬可以測(cè)試顯示面板較大的對(duì)比度生產(chǎn)廠家:美國PhotoRes
  • 2018

    04-13

    10分鐘讓老化的LED顯示屏光亮如新

    --RadiantZemaxLED顯示屏現(xiàn)場(chǎng)再校準(zhǔn)解決方案由于LED顯示屏的RGB燈珠的亮度會(huì)隨著時(shí)間衰減,且衰減速度不同,造成LED顯示屏亮度、色度不一致,出現(xiàn)老化和花屏現(xiàn)象。如何對(duì)這些老化的LED顯示屏進(jìn)行快速、低成本而有效的“現(xiàn)場(chǎng)再校正”,延長(zhǎng)LED屏的“悅眼壽命”成為越來越多LED顯示屏企業(yè)的新挑戰(zhàn),也是新機(jī)遇!上圖所示的LED顯示屏,經(jīng)過2年的使用,由于RGB燈珠衰減的不一致導(dǎo)致花屏,臟屏現(xiàn)象嚴(yán)重。您是否還在選擇把箱體拆下運(yùn)回工廠重新校正后再進(jìn)行安裝?您是否還在選擇把出現(xiàn)問題的幾個(gè)箱體
  • 2018

    04-13

    解決直讀光譜儀常見問題

    直讀光譜儀采用原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理,樣品經(jīng)過電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽,蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜,發(fā)射光譜經(jīng)光導(dǎo)纖維進(jìn)入光譜儀分光室色散成各光譜波段,根據(jù)每個(gè)元素發(fā)射波長(zhǎng)范圍。通過光電管測(cè)量每個(gè)元素的*譜線,每種元素發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素含量,通過內(nèi)部預(yù)制校正曲線可以測(cè)定含量,直接以百分比濃度顯示。直讀光譜儀的常見故障及解決方法:1、直讀光譜儀排氣不暢故障,氬氣排氣管路堵塞,火花室下部的彎頭內(nèi)有異物,氬氣過濾器入口端有異物。處理辦法:更換排氣管,要更換透明的塑料管,
  • 2018

    04-13

    Vision系列LED顯示屏光色校正解決方案

    Vision系列LED顯示屏校正系統(tǒng)是一個(gè)LED顯示屏制造商和用戶顯著改善LED屏色彩和亮度均勻性的解決方案。該系統(tǒng)適用于多種場(chǎng)合校正要求:LED顯示屏制造業(yè)領(lǐng)域的LED模塊和屏幕校正;LED顯示屏使用領(lǐng)域的LED室內(nèi)和室外屏幕校正;LED顯示屏的重新校準(zhǔn)和性能的改善。VisionCAL—LED顯示屏的色度和亮度逐點(diǎn)校正系統(tǒng)VisionCAL系統(tǒng)使用一架PM系列影像色度計(jì)測(cè)量LED模塊或屏幕中每一顆LED的色度和亮度。在此測(cè)量基礎(chǔ)上,VisionCAL應(yīng)用軟件計(jì)算優(yōu)化每個(gè)LED和LED像素的校正
  • 2018

    04-13

    氣體傳感器的類型

    氣體傳感器的類型,從檢測(cè)氣體種類上,常分為可燃?xì)怏w傳感器(常采用催化燃燒式、紅外、熱導(dǎo)、半導(dǎo)體式)、有毒氣體傳感器(一般采用電化學(xué)、金屬半導(dǎo)體、光離子化、火焰離子化式)、有害氣體傳感器(常采用紅外、紫外等)、氧氣(常采用順磁式、氧化鋯式)等其它類傳感器;從儀表使用方法上,分為便攜式和固定式;從獲得氣體樣品的方式上,分為擴(kuò)散式(即傳感器直接安裝在被測(cè)對(duì)象環(huán)境中,實(shí)測(cè)氣體通過自然擴(kuò)散與傳感器檢測(cè)元件直接接觸)、吸入式(是指通過使用吸氣泵等手段,將待測(cè)氣體引入傳感器檢測(cè)元件中進(jìn)行檢測(cè)。根據(jù)對(duì)被測(cè)氣體是
  • 2018

    04-13

    MEMS器件近紅外檢測(cè)技術(shù)

    在半導(dǎo)體制造過程中,前期的全自動(dòng)晶圓缺陷檢測(cè)技術(shù)非常重要。因?yàn)樵诤蠖说纳a(chǎn)流程中,通常會(huì)有多片晶圓粘合到一起,或者把晶圓粘合到不透明的材料上。因?yàn)榘雽?dǎo)體材料對(duì)可見光都是不透明的,所以很難用可見圖像技術(shù)對(duì)粘合效果做表征或者檢測(cè)粘合表面的污染。比如MEMS的分選就是典型的應(yīng)用。MEMS是把微型機(jī)械部件、微型傳感器、微電路集成到一個(gè)芯片上;為確保MEMS的運(yùn)作,對(duì)其進(jìn)行缺陷檢測(cè)是至關(guān)重要的,但很多機(jī)械性能無法通過電氣或功能測(cè)試來確定。因?yàn)檫@些缺陷往往位于基板上或器件與封蓋晶圓之間連接的紐帶上,所以單純
  • 2018

    04-13

    冷CCD相機(jī)在微光顯微鏡(EMMI)的應(yīng)用

    半導(dǎo)體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展,器件特征尺寸不斷下降,而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機(jī)理的分析帶來巨大的挑戰(zhàn)。對(duì)于半導(dǎo)體失效分析(FA)而言,微光顯微鏡(EmissionMicroscope,EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測(cè)能力,可偵測(cè)到半導(dǎo)體組件中電子-電洞對(duì)再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來的光線,能偵測(cè)到的波長(zhǎng)約在350nm~1100nm左右。它可以廣泛的應(yīng)用于偵測(cè)IC中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流,如:Gateoxidedefects/Lea
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