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北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
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定量顯微光譜儀的養(yǎng)護(hù)方式2025/06/26
定量顯微光譜儀是結(jié)合顯微成像與光譜分析的精密儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)分析等領(lǐng)域。其核心功能是通過微區(qū)光譜信號(hào)提取物質(zhì)的定量信息，因此儀器的穩(wěn)定性、精度和潔凈度直接影響數(shù)據(jù)可靠性?？茖W(xué)的養(yǎng)護(hù)可延長儀器壽命、降低故障率，并保障檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。以下是定量顯微光譜儀的養(yǎng)護(hù)要點(diǎn)及操作規(guī)范：一、光學(xué)系統(tǒng)的維護(hù)1.鏡頭與光學(xué)元件的清潔-顯微物鏡與反射鏡：定期用壓縮空氣清除表面塵埃，頑固污漬用無纖維拭紙蘸取少量乙醇(濃度-狹縫與準(zhǔn)直鏡：檢查狹縫是否變形或堵塞，使用剃須刀片或?qū)Ｓ霉ぞ哒{(diào)整寬度；準(zhǔn)
超快光聲顯微成像系統(tǒng)的構(gòu)成和優(yōu)勢2025/05/27
超快光聲顯微成像系統(tǒng)是一種融合光學(xué)激發(fā)與聲學(xué)探測的先進(jìn)成像技術(shù)，其核心在于通過脈沖激光誘導(dǎo)生物組織的光聲效應(yīng)，結(jié)合高性能超聲檢測技術(shù)實(shí)現(xiàn)高分辨率、高對比度的成像。以下是其系統(tǒng)構(gòu)成與優(yōu)勢的詳細(xì)分析：一、系統(tǒng)構(gòu)成1.激光激發(fā)模塊-多光譜光源：采用脈沖激光器(如綠光、紅光等)提供多波長激發(fā)，覆蓋不同組織的吸收峰。例如，香港城大的SLD-PAM系統(tǒng)使用11個(gè)波長的低成本脈沖激光，支持從綠光到紅光的光譜切換。-光束整形與聚焦：通過微透鏡陣列或光學(xué)聚焦系統(tǒng)(如二維多聚焦技術(shù)MFOR-PAM)，將激光分解為多
了解X射線粉末衍射儀，讓晶體結(jié)構(gòu)分析更簡單2025/04/29
X射線粉末衍射儀是一種利用X射線衍射原理分析物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、制藥等領(lǐng)域。X射線粉末衍射儀基于布拉格方程（2dsinθ=nλ）工作。當(dāng)單色X射線照射到粉末樣品上時(shí)，晶體中的原子規(guī)則排列使X射線發(fā)生衍射，不同晶面散射的X射線相互干涉，在特定方向上產(chǎn)生強(qiáng)衍射峰。衍射線的空間分布和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，通過分析衍射圖譜可獲得晶體的晶胞參數(shù)、原子排列等信息。儀器主要由以下部分構(gòu)成：X射線發(fā)生器：提供穩(wěn)定的高強(qiáng)度X射線源，通常使用Cu靶或Co靶，波長可調(diào)。測角儀：精確控
掃描電子顯微鏡：為研究微觀世界提供強(qiáng)大的手段2025/03/30
掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)是一種利用高能電子束掃描樣品表面，通過收集激發(fā)的二次電子、背散射電子及特征X射線等信號(hào)，生成高分辨率微觀圖像的儀器。其工作原理可分為四步：電子束發(fā)射：電子槍(如熱發(fā)射槍或場發(fā)射槍)產(chǎn)生高能電子束。聚焦與掃描：電子束經(jīng)電磁透鏡聚焦至納米級(jí)(直徑約0.4-5nm)，通過掃描線圈在樣品表面按光柵式路徑逐點(diǎn)掃描。信號(hào)激發(fā)：電子束與樣品相互作用，激發(fā)二次電子(反映表面形貌)、背散射電子(反映成分分布)和特征X射線(用于元素分析)
超高壓XRD：為材料的性質(zhì)研究提供基礎(chǔ)2025/02/14
X射線是一種電磁輻射，具有短波長和高穿透力，能夠穿透固體物質(zhì)并與之相互作用。當(dāng)X射線照射到晶體上時(shí)，晶體內(nèi)部的原子或分子會(huì)作為散射中心，使X射線發(fā)生散射。由于晶體內(nèi)部原子或分子的周期性排列，這些散射波之間會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。當(dāng)滿足布拉格方程時(shí)，即入射X射線的波長、衍射角、晶面間距和衍射級(jí)數(shù)之間滿足特定關(guān)系時(shí)，散射波會(huì)相互加強(qiáng)，形成衍射線。這些衍射線就是超高壓XRD技術(shù)所分析的對象。超高壓XRD技術(shù)能夠準(zhǔn)確測定物質(zhì)的組成，包括晶體和非晶體的組成。通過衍射圖譜，可以識(shí)別不同的晶型，為材料的性質(zhì)研究提供基
高溫環(huán)境XRD需要在高溫條件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)2025/01/17
高溫環(huán)境XRD(X射線衍射儀)的維護(hù)保養(yǎng)方法主要包括以下幾個(gè)方面：-使用干凈的軟布定期擦拭設(shè)備的外部表面，避免使用化學(xué)溶劑，以防損壞設(shè)備表面。-清潔樣品臺(tái)和樣品夾具，確保其表面干凈，以保證測試的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。-確保實(shí)驗(yàn)室的溫度和濕度在適宜范圍內(nèi)，一般建議溫度為15℃至25℃，相對濕度為20%至80%。-保持環(huán)境整潔，定期清潔儀器內(nèi)部，避免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，如測角儀光學(xué)編碼盤。-注意振動(dòng)和磁場等其他環(huán)境條件對儀器的影響。-待機(jī)功率尤其是電流不能太高，因?yàn)檫@會(huì)消耗光管壽命。-冷卻水總
高溫環(huán)境XRD是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域中至關(guān)重要的分析工具2025/01/13
高溫環(huán)境XRD是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域中至關(guān)重要的分析工具，它允許研究人員在高溫條件下對材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)進(jìn)行準(zhǔn)確的表征。這種技術(shù)的應(yīng)用范圍廣泛，從基礎(chǔ)科學(xué)研究到工業(yè)應(yīng)用都發(fā)揮著關(guān)鍵作用。核心原理基于X射線與晶體結(jié)構(gòu)相互作用時(shí)的衍射現(xiàn)象。X射線具有較短的波長和高能量，當(dāng)它們穿透物質(zhì)時(shí)，能夠與物質(zhì)內(nèi)部的原子或分子相互作用，產(chǎn)生衍射圖案。這些衍射圖案是材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的直接反映，通過分析這些圖案，可以獲得關(guān)于材料成分、晶體結(jié)構(gòu)、晶格參數(shù)等重要信息。高溫環(huán)境XRD實(shí)驗(yàn)方法：1.粉末衍射：在高溫環(huán)境下進(jìn)行的粉末衍
數(shù)字光電探測器常見的分類方式2025/01/10
數(shù)字光電探測器是一種能夠?qū)⒐庑盘?hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)并進(jìn)行數(shù)字化處理的器件。當(dāng)光照射到探測器的光敏面上時(shí)，光子會(huì)與材料中的電子發(fā)生相互作用，導(dǎo)致電子從原子中逸出，形成光電流。這個(gè)光電流的大小與入射光的強(qiáng)度成正比，因此可以通過測量光電流來推斷入射光的強(qiáng)度。數(shù)字光電探測器在將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)后，還會(huì)利用模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)將電信號(hào)進(jìn)一步轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，以便于后續(xù)的數(shù)字信號(hào)處理和分析。數(shù)字光電探測器可以根據(jù)不同的分類標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分類。以下是一些常見的分類方式：一、按工作原理分類：光子探測器：利用光子與物質(zhì)中的電
場發(fā)射電鏡是一種高精密度的電子光學(xué)儀器2024/12/25
場發(fā)射電鏡(FieldEmissionScanningElectronMicroscope，F(xiàn)ESEM)是一種高精密度的電子光學(xué)儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域。為了確保其正常運(yùn)行和延長使用壽命，需要對場發(fā)射掃描電鏡進(jìn)行定期的維護(hù)和保養(yǎng)。一、環(huán)境條件控制1.溫度與濕度：保持電鏡室內(nèi)的溫度和濕度穩(wěn)定，避免溫度和濕度對設(shè)備的影響。2.無塵環(huán)境：盡量將設(shè)備放置在無塵環(huán)境中，以減少灰塵對設(shè)備內(nèi)部元件的污染。3.減震防震：確保設(shè)備放置在穩(wěn)固的工作臺(tái)上，避免震動(dòng)對設(shè)備性能的影響。4.磁場干擾：
場發(fā)射電鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的應(yīng)用2024/12/21
場發(fā)射電鏡的核心在于其電子源——場發(fā)射槍。場發(fā)射槍通過強(qiáng)電場將電子從頂部發(fā)射出來，形成一束極細(xì)的電子流。這種電子源的優(yōu)勢在于其穩(wěn)定性和亮度，能夠在超低加速電壓下工作，減少了對樣品的損傷，尤其適合觀察那些對電子束敏感的生物樣品和有機(jī)材料。場發(fā)射電鏡的工作原理是將電子槍產(chǎn)生的電子束聚焦成非常細(xì)小的探針，然后以光柵掃描的方式照射到樣品上。當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子等多種信號(hào)。這些信號(hào)被不同的探測器捕獲，并通過復(fù)雜的信號(hào)處理系統(tǒng)轉(zhuǎn)換成圖像，從而得到樣品表面的形貌信息。場發(fā)射電鏡
熒光體視顯微鏡的使用說明2024/12/13
熒光體視顯微鏡是由體視顯微鏡配熒光組成，從而可對樣本進(jìn)行明場觀察以及熒光檢測。其檢測原理是用短波長的光線照射用熒光素染色過的被檢物體，使之受激發(fā)后而產(chǎn)生長波長的熒光，然后觀察。熒光體視顯微鏡廣泛應(yīng)用于生物、工業(yè)檢測、司法刑偵等領(lǐng)域，是熒光防偽印刷檢測所需的工具，也是礦物研究的理想儀器。一、使用方法將材料片放在載物臺(tái)上。開啟熒光顯微鏡穩(wěn)壓器，然后按下啟動(dòng)組點(diǎn)燃紫外燈，注意在15分鐘內(nèi)不得關(guān)閉，關(guān)閉后3分鐘內(nèi)不得再啟動(dòng)。根據(jù)需要調(diào)整激發(fā)濾光片、分色片和阻擋濾光片。選用合適的熒光接物鏡進(jìn)行鏡檢。在玻片
鎢燈絲電鏡該如何正常的保養(yǎng)與維護(hù)？2024/11/26
鎢燈絲電鏡的維護(hù)保養(yǎng)方法：1.電子槍的維護(hù)-柵極片清潔：由于鎢陰極蒸汽污染嚴(yán)重，應(yīng)定時(shí)對柵極片進(jìn)行清潔。在更換鎢燈絲時(shí)，可以拆下柵極中的柵片，使用金屬研磨膏擦拭，然后用丙酮或酒精等有機(jī)溶液進(jìn)行超聲波清洗。-光闌清潔：電子束通路中的幾個(gè)主要零件幾乎都裝在無磁性的不銹鋼襯管中。用戶可用電鏡的專用提取工具取出襯管和光闌，然后分開清洗。建議每年清洗一次。2.真空系統(tǒng)的維護(hù)-真空泵油面檢查：經(jīng)常檢查機(jī)械真空泵和油擴(kuò)散泵的油面，如果發(fā)現(xiàn)油面下降應(yīng)及時(shí)加油。機(jī)械泵若缺油不僅會(huì)磨壞軸封，還會(huì)損傷旋片端頭和內(nèi)腔壁
X射線衍射儀的操作注意事項(xiàng)與維護(hù)保養(yǎng)2024/11/25
X射線衍射儀基于X射線與晶體物質(zhì)的相互作用。當(dāng)高能電子束轟擊金屬“靶”材時(shí)，會(huì)產(chǎn)生X射線。這些X射線的波長與晶體內(nèi)部原子面間的距離相近，因此當(dāng)一束X射線通過晶體時(shí)，將發(fā)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使得射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，而在其他方向上減弱。當(dāng)X射線以掠角(入射角的余角)入射到某一點(diǎn)陣晶格間距為d的晶面上時(shí)，在符合布拉格方程的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強(qiáng)的衍射線。通過測量這些衍射線的角度和強(qiáng)度，可以推斷出晶體的結(jié)構(gòu)信息。一、操作注意事項(xiàng)在開機(jī)前必須先開啟循環(huán)冷卻水，以防儀器過熱損壞。
鎢燈絲電鏡面臨的的優(yōu)勢和挑戰(zhàn)有哪些？2024/11/20
鎢燈絲電鏡通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子和背散射電子等信號(hào)，利用這些信號(hào)獲得表面形貌和組成信息。其工作原理包括電子束的發(fā)射、掃描、信號(hào)收集與處理。電子槍發(fā)射出高能電子束，經(jīng)過聚焦和加速后照射到樣品表面；然后，電子束與樣品相互作用產(chǎn)生各種信號(hào)，這些信號(hào)被探測器接收并轉(zhuǎn)換成圖像。具體來說，電子槍是掃描電鏡的核心部件之一，由陰極、柵極和陽極組成。陰極在加熱狀態(tài)下釋放電子，柵極控制電子的發(fā)射，而陽極則加速電子使其飛向樣品。樣品表面的起伏會(huì)使得二次電子被散發(fā)或散射出來，這些二次電子信號(hào)被探測器接收并
臺(tái)式電鏡SEM是一種現(xiàn)代電子顯微分析儀器2024/10/28
臺(tái)式電鏡SEM作為一種現(xiàn)代電子顯微分析儀器，憑借其高分辨率、大景深和強(qiáng)大的綜合分析能力，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。無論是科學(xué)研究還是工業(yè)應(yīng)用，SEM都為我們揭示了一個(gè)肉眼無法看到的微觀世界，推動(dòng)了科技的進(jìn)步和創(chuàng)新。未來，隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，其性能和應(yīng)用范圍將進(jìn)一步擴(kuò)大，為人類探索未知領(lǐng)域提供更多可能。臺(tái)式電鏡SEM主要由以下幾部分組成：-電子槍：產(chǎn)生具有確定能量的電子束。-電磁透鏡：用于聚焦電子束。-掃描系統(tǒng)：控制電子束在樣品表面的掃描路徑。-探測器：收集電子與樣品相互作用后產(chǎn)生的信號(hào)。-熒光屏
Fossil巖礦分析系統(tǒng)具有哪些特點(diǎn)？2024/10/24
巖礦分析系統(tǒng)是一種用于地質(zhì)樣品元素含量、元素形態(tài)和同位素比值分析的技術(shù)手段，它對于地球科學(xué)研究、礦產(chǎn)資源評(píng)估和環(huán)境監(jiān)測具有重要意義。Fossil巖礦分析系統(tǒng)是一種測試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測量方式可滿足國家標(biāo)準(zhǔn)；只需一次定標(biāo)，就可測算出視野范圍內(nèi)任意位置的鏡質(zhì)體反射率，提高了測量效率。Fossil巖礦分析系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)：?測量快速，自動(dòng)測量；?自動(dòng)測量，給出煤質(zhì)分析數(shù)據(jù)；?測量區(qū)域自由選擇；?測量面積低于3μm2；?測量過程中只需一次定標(biāo)；?數(shù)
關(guān)于臺(tái)式電鏡SEM有什么是我們不知道的？2024/10/23
臺(tái)式電鏡SEM的維護(hù)保養(yǎng)方法主要包括冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、空氣壓縮機(jī)、機(jī)械泵、烘烤和機(jī)械對中等關(guān)鍵部件的維護(hù)。這些保養(yǎng)措施確保了SEM的性能和壽命，并防止了環(huán)境因素對其造成的不良影響。-檢查與記錄：每月至少檢查一次冷卻循環(huán)水的水位，并及時(shí)補(bǔ)充。同時(shí)，每半年更換一次過濾網(wǎng)，并清洗冷卻水。-緊急處理：在發(fā)現(xiàn)泄漏或水位下降過快時(shí)，應(yīng)立即停止使用SEM，并聯(lián)系專業(yè)技術(shù)人員進(jìn)行維修。-排水與清潔：每半個(gè)月至少進(jìn)行一次內(nèi)部排水，以確?？諝鈮嚎s機(jī)的正常運(yùn)行。-油霧收集器：當(dāng)油霧收集器附著油液或有油煙時(shí)，需要立即停機(jī)
臺(tái)式電鏡SEM是一種強(qiáng)大的分析工具2024/09/26
臺(tái)式電鏡SEM是一種強(qiáng)大的分析工具，它利用聚焦的電子束掃描樣品表面，通過檢測產(chǎn)生的二次電子和背散射電子信號(hào)來呈現(xiàn)樣品表面的高分辨率圖像。這種技術(shù)在材料科學(xué)、生物學(xué)、冶金學(xué)以及許多其他領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。臺(tái)式電鏡SEM的選購指南：-性能參數(shù)：選購時(shí)，放大倍數(shù)和分辨率是核心考量因素。放大倍數(shù)直接影響到你能看到多少細(xì)節(jié)，而分辨率決定了這些細(xì)節(jié)的清晰度。當(dāng)前市場上的臺(tái)式SEM通常能提供從幾十倍到數(shù)十萬倍的放大倍數(shù)，而分辨率可達(dá)到納米級(jí)。-電子源類型：電子源是SEM的心臟部分，影響著成像質(zhì)量和系統(tǒng)的穩(wěn)定
穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀的功能和使用注意事項(xiàng)2024/09/20
穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀結(jié)合了穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀和瞬態(tài)熒光光譜儀的功能，能夠同時(shí)提供物質(zhì)在穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)條件下的熒光光譜信息。穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀主要用于測量物質(zhì)在受激發(fā)光后進(jìn)入平衡狀態(tài)下的發(fā)光性質(zhì)，而瞬態(tài)熒光光譜儀則用于研究物質(zhì)在受激發(fā)光后，發(fā)光強(qiáng)度隨時(shí)間的變化過程。主要功能：1.穩(wěn)態(tài)熒光光譜測量激發(fā)譜:測量樣品在不同波長激發(fā)光下的熒光強(qiáng)度。發(fā)射譜:測量樣品在特定波長激發(fā)光下的熒光發(fā)射光譜。同步譜、EEM三維譜及動(dòng)態(tài)掃描:提供多維度的光譜信息，有助于深入研究樣品的熒光特性。2.瞬態(tài)熒光光譜測量熒光壽命測量:通過測
臺(tái)式電鏡SEM的作用主要有以下幾點(diǎn)2024/09/20
臺(tái)式電鏡SEM，即掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope)，是利用電子束掃描樣品表面，通過收集二次電子、背散射電子等信號(hào)來獲取樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)信息的顯微分析儀器，具有高分辨率、大景深、立體感強(qiáng)等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域?；竟ぷ髟硎牵弘娮訕尠l(fā)射出高速電子束，經(jīng)過電磁透鏡系統(tǒng)聚焦成直徑為納米級(jí)別的細(xì)束；電子束在掃描線圈的作用下按照一定規(guī)律掃描樣品表面，與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)；這些信號(hào)被探測器收集并轉(zhuǎn)換成電信
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