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上海磊微科學(xué)儀器有限公司
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臭氧分析儀檢測中應(yīng)注意事項2023/11/23
臭氧分析儀是分析大氣中臭氧含量的儀器、低濃度臭氧分析儀適用于對環(huán)境大氣濃度的監(jiān)測及臭氧發(fā)生源，例如：負(fù)離子發(fā)生器、復(fù)印機、臭氧消毒柜、臭氧空氣消毒設(shè)備、醫(yī)用臭氧消毒設(shè)備等的臭氧泄漏狀況進行監(jiān)測、高濃度臭氧分析儀適用于臭氧發(fā)生器制造企業(yè)檢測產(chǎn)品的臭氧發(fā)生濃度,各衛(wèi)生防疫部門對臭氧殺菌消毒產(chǎn)品的檢測、臭氧分析儀檢測中應(yīng)注意事項：1、采樣管材料應(yīng)選用抗強氧化的材料,如玻璃、聚四氟乙烯、聚偏二氟乙烯;不銹鋼材料也盡量少用,以減少采樣管中臭氧損耗。2、采樣管應(yīng)盡量短，測量低濃度時一般不要超過2m。3、從采
原子層沉積系統(tǒng)中的沉積速率受哪些因素影響？ 2023/07/20
原子層沉積系統(tǒng)的關(guān)鍵在于準(zhǔn)確控制反應(yīng)溫度、原子/分子流量以及與表面的相互作用等參數(shù)，從而實現(xiàn)精確的沉積速率和薄膜厚度控制。通過精心設(shè)計的反應(yīng)室和控制系統(tǒng)，ALD系統(tǒng)不僅可以沉積常見的金屬氧化物、金屬硫化物等傳統(tǒng)材料，還可以制備復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)、異質(zhì)結(jié)構(gòu)和納米尺度結(jié)構(gòu)。這使得ALD技術(shù)在微電子、能源儲存、傳感器、光學(xué)器件等領(lǐng)域具有巨大的潛力。沉積速率是評估ALD系統(tǒng)性能的重要指標(biāo)，受多種因素的影響。下面將介紹影響ALD沉積速率的關(guān)鍵因素。1、反應(yīng)溫度：ALD反應(yīng)是在一定溫度范圍內(nèi)進行的。提高反應(yīng)溫度
原子力顯微鏡探針的掃描速率受哪些因素影響？2023/07/12
原子力顯微鏡探針采用了先進的納米加工技術(shù)，使得探針的直徑僅為幾個納米級，大大提高了成像分辨率。同時，研究團隊還改進了探針的機械結(jié)構(gòu)和控制系統(tǒng)，使其在復(fù)雜的環(huán)境中仍能保持高度穩(wěn)定的性能。在AFM中，探針在樣品表面上進行掃描以獲取高分辨率的表面拓?fù)鋱D像，其掃描速率是影響實驗效率和數(shù)據(jù)質(zhì)量的重要參數(shù)。以下是影響原子力顯微鏡探針掃描速率的幾個因素：1、力曲線的采集速率：在AFM中，探針通過檢測樣品表面的力變化來獲得拓?fù)湫畔ⅰ２杉η€的速率決定了掃描速率。較高的采集速率可以提高掃描速率，但也可能導(dǎo)致力曲
SEM掃描電子顯微鏡常見的成像模式有哪些？2023/06/25
在SEM掃描電子顯微鏡中，電子束從電子槍中發(fā)出，通過軌道電磁透鏡設(shè)備進行聚焦和信號放大，最終與樣品相互作用，產(chǎn)生二次電子和散射電子等各種信號，通過成像設(shè)備轉(zhuǎn)化成可觀察的圖像。在SEM成像中，常用的成像模式有以下幾種：1.次外殼成像模式（SEI）：這種模式下，SEM通過探測下方產(chǎn)生的二次電子和表面的次電子，即形成所謂的次表面成像。SEI模式可用于研究樣品表面形貌特征，例如表面粗糙度、形態(tài)等。2.高角度底層成像模式（BSE）：在樣品表面裝上低原子數(shù)的薄膜，使用BSE模式，可以觀察到帶有原子序數(shù)反比于
帕克原子力顯微鏡在納米技術(shù)研究中的重要性是什么？2023/06/15
帕克原子力顯微鏡（簡稱AFM）作為基于原子力原理的高分辨率顯微鏡技術(shù)，已經(jīng)成為納米技術(shù)領(lǐng)域的重要研究工具。這項技術(shù)利用一個非常尖銳的探針掃描表面，并以納米級分辨率提供關(guān)于材料表面結(jié)構(gòu)和拓?fù)涮卣鞯脑敿?xì)信息。下面詳細(xì)介紹帕克原子力顯微鏡在納米技術(shù)研究中的重要性。1.幫助了解納米材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)由于納米材料具有與其尺寸相應(yīng)的性質(zhì)，如表面能量、導(dǎo)電性、光學(xué)性質(zhì)等，因此在構(gòu)建納米級系統(tǒng)時必須考慮材料特征對性能的影響。帕克AFM可以提供高分辨率的圖像，顯示材料表面上的結(jié)晶信息、晶格缺陷、表面特性和化學(xué)組成等
park帕克原子力顯微鏡的安裝和使用事項2023/05/22
Park原子力顯微鏡是一種常用的高精度顯微鏡，能夠在納米尺度下對樣品表面的形貌、電學(xué)性能、磁學(xué)性能等進行表征。需要嚴(yán)格地按照使用規(guī)程進行操作和使用，以保證實驗數(shù)據(jù)和結(jié)果的可靠性。下面我們來了解一下ParkAFM的安裝和使用事項。一、安裝1.確保環(huán)境符合安裝條件：ParkAFM需要放置在一個無塵、溫濕度穩(wěn)定的房間內(nèi)，應(yīng)避免震動和噪音干擾。2.安裝微操作臺：將微操作臺放置在精度要求高、環(huán)境相對穩(wěn)定的平臺上，使其水平。3.安裝探頭：將探頭安裝在支架上，并且使其處于正常工作狀態(tài)下。4.安裝選配附件：固定
掃描電鏡SEM為何廣受大眾的喜愛？2023/05/17
隨著科技的發(fā)展，掃描電鏡作為一種高分辨率的顯微鏡已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域，如材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等。那么為什么掃描電鏡能夠廣受大眾的喜愛呢？這里我們就來探究一下原因。一、高分辨率SEM是一種真正具有光學(xué)分辨率的顯微鏡，它能夠通過掃描電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的不同信號來形成圖像，從而達到非常高的分辨率。其能夠?qū)ξ镔|(zhì)在微觀尺度下的形貌、結(jié)構(gòu)、組成、性質(zhì)等進行精確高清的顯示和分析，這使得SEM成為當(dāng)今顯微鏡之一。二、多功能性SEM不僅能夠提供表面形貌和組成分析，還可以用于顯微操控、原位測試、納米
原子力顯微鏡出現(xiàn)異常時如何處理2023/04/18
原子力顯微鏡是一種高級的表面形貌分析儀器，廣泛用于表面形貌分析、磨損分析、物質(zhì)力學(xué)性能分析等方面。它的精密性和高靈敏度使得樣品的污染、探針的損壞等情況可能導(dǎo)致探針出現(xiàn)異常。那么在出現(xiàn)異常時，我們應(yīng)該如何處理呢？1.停止使用并進行檢查如果探針出現(xiàn)異常，第一時間應(yīng)當(dāng)停止使用，然后對探針進行檢查。探針異常的原因可能是探針尖的損壞或者是污染。對于器件的操作者，需要對操作程序及注意事項進行嚴(yán)格遵守，減少探針的損壞或者污染情況的發(fā)生。2.完善探針的制備條件為了最大限度地減少出現(xiàn)異常的情況，需要完善探針的制備
原子力顯微鏡探針的使用方法介紹2023/03/24
顯微鏡探針是顯微鏡系統(tǒng)中的主要組成部分之一，常見的顯微鏡探針包括光學(xué)顯微鏡的物鏡、掃描電子顯微鏡的電子束和原子力顯微鏡的探針等。不同的顯微鏡探針在不同的顯微鏡系統(tǒng)中具有不同的應(yīng)用范圍和使用方法。以原子力顯微鏡探針為例，以下簡單介紹其使用方法：1.安裝探針：需要用顯微鏡探針實現(xiàn)高分辨率成像時，首先需要將探針安裝到原子力顯微鏡系統(tǒng)中，安裝過程需要注意探針的正確插入方向和角度。2.調(diào)節(jié)探針位置：安裝完成后，需要通過控制系統(tǒng)調(diào)節(jié)探針的位置，使其能夠與樣品表面接觸。3.掃描樣品：探針與樣品表面接觸后，通過
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