德國 Panco 公司-電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
2025-07-28
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電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
系統(tǒng)組成部分
1、三矢量軸定位平臺及其控制器
2、熱量克測量的測溫探針
3、接觸探測系統(tǒng)
4、模擬多路器
5、數(shù)字電壓表
6、鎖相放大器
7、攝像探頭
8、帶有控制軟件和 GPIB 總線的計算機
9、樣品架
電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
掃描電導(dǎo)率－塞貝克系數(shù)顯微鏡可以測量樣品的電導(dǎo)率和塞貝克系數(shù)的空間分布狀況，是研究熱電材料的利器。
應(yīng)用領(lǐng)域 1、熱電材料，超導(dǎo)材料，燃料電池，導(dǎo)電陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測量 2、測量功能梯度材料的梯度 3、觀察功能梯度材料的梯度效應(yīng) 4、監(jiān)測 NTC/PTC 材料的電阻漂移 5、導(dǎo)電固體中的傳導(dǎo)損耗 6、陰極材料的電導(dǎo)率損耗 7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化 8、樣品的質(zhì)量監(jiān)控 |
電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡
主要技術(shù)參數(shù) 位置單向定位精度： 1 μm位置雙向定位精度： 3 μm zui大掃描區(qū)域： 150 mm × 50 mm 局部測量精度： 10 μm (與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān)) 信號測量精度： 100 nV 測量結(jié)果重復(fù)性： 優(yōu)于3% 電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡技術(shù)由德國 Panco 公司和德國宇航中心公共研制開發(fā)，點擊資料下載按鈕下載說明手冊。 | |
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