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YAMADA京都玉崎晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨高亮度YP-150ID鹵素射燈PX 3537
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INTECS英特斯晶圓檢測倉庫現(xiàn)貨檢查用照明裝置UIH-2DPX 3537
INTECS英特斯晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置PX 3537
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京都玉崎安德魯斯S-VAN光學檢測目視光源185LE現(xiàn)貨PX 3537
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京都玉崎SENA 高照度晶圓缺陷表面檢查燈185LE現(xiàn)貨PX 3537
ET4000A全自動微形狀測量機PX 1950
CA20型CT系統(tǒng)PX 1950
CC系列CT系統(tǒng)PX 1950
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
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其它半導體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓光學除塵儀
自動粉體半導電電阻測試儀
EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測燈 PSVLX1-F5016
半導體晶圓形貌測量機
晶圓測厚儀 MX203-4-21
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晶圓厚度測量設(shè)備
無圖晶圓厚度翹曲量測系統(tǒng)
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
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上海平軒科學儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
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